儀器廠商和型號

TecnaiF30美國FEI

儀器設備性能參數

加速電壓：

300KV；電子槍：肖特基場發射電子槍。

分 辨 率：

點分辨率：0.205nm；線分辨率：0.102nm；信息分辨率：0.14nm；HR STEM分辨率：0.14nm；EELS分辨率：0.65eV；EDX分辨率：1.35eV。

最大倍數：

TEM 模式60X-1000KX； HAADF STEM模式200X-100MX。

主要附件：

Gatan 電子能量過濾系統（GIF）；EDAX X射線能譜儀；STEM掃描透射系統；HAADF高角環形暗場探頭；Gatan894Ultriscan CCD ;Gatan963 Ultriscan CCD ；Lorentz電磁透鏡。

儀器設備功能用途

可以實現形貌觀察、選區衍射、高分辨成像、原子序數襯度成像、能量過濾成像、磁疇觀察、能譜和能量損失譜測定等功能，具有強大的分析能力。可以在原子尺度的分辨率下對材料進行形貌、結構和相組織的觀察與分析，以及各種材料微區化學成分的定性和定量檢測。