儀器廠商和型號

Titan ETEM 美國FEI

儀器設備性能參數

電子槍：肖特基場發射電子槍；加速電壓：80-300KV；EELS分辨率：0.7eV；EDX分辨率：131eV；

標準模式  點分辨率：0.10nm；信息分辨率：0.10nm；STEM分辨率：0.14nm；

環境模式（10-3Pa~2000Pa）  點分辨率：0.12nm；STEM分辨率：0.16nm；信息分辨率：0.12nm；

主要附件：球差校正器（image Cs corrector）；Lorentz 電磁透鏡；Gatan電子能量過濾系統（GIF）；Oxford X 射線能譜； NanoEx-i/V 原位高溫電場樣品臺；Ceta2 4K×4K CMOS Camera；

HAADF 高角環形暗場探頭。

儀器設備對外服務項目

用于研究物質在可變氣體環境下原子級動態行為的球差校正透射電鏡。還可以在可變氣體環境，氣壓和溫度條件下的，對催化反應、材料生長、結構穩定性等做動態實時的觀察記錄，微結構和成分等分析，在透射電鏡中構建一個研究物質動態行為的微型實驗室。